654014
2011-02-02
Public
Không có bản xem trước cho bản ghi này, vui lòng chọn từ các tùy chọn có sẵn "tải xuống" hoặc "xem" để truy cập tài liệu
Mô tả
Mô tả kiểm tra dự phòng theo chu kỳ phát hiện lỗi (CRC) và Giảm thiểu SEU trong Thiết bị IV Stratix®
Lệnh sử dụng
Tài sản liên quan
Tiêu đề và Mô tả
Định dạng
Ngôn ngữ
Hành động
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1, Chapter 12: JTAG Boundary-Scan Testing
Describes IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Testing in Stratix® IV Devices
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1: Device Core, I/O Interfaces, and System Integration
This section provides a description of transceiver architecture and transceiver clocking for the Stratix® IV device family. It also describes configuring for multiple protocols and data rates, reset control and power down, and dynamic configuration for Stratix IV devices.
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1, Chapter 10: Configuration, Design Security, and Remote System Upgrades
Which configuration schemes are supported and how to execute required configuration schemes.
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1, Chapter 9: Hot Socketing and Power-On Reset
Describes hot socketing and power-on reset in Stratix® IV Devices